半导体分立器件批量参数测试平台

主要用于半导体分立器件批量自动巡检测试。将器件通过测试夹具夹持到测试台上，平台会按照预定的程序对器件的阈值电压、导通电阻、跨导等特性参数以及输出特性、转移特性曲线等参数进行测试。

系统主要指标及功能

主要指标

（1）最大巡检数量：48只。

（2）三轴移动模组重复定位精度：0.02mm。

主要功能

（1）用于MOSFET、三极管、二极管等器件的参数测试工作。

（2）测试结果数据存储形式为EXCEL表格，方便数据提取并处理。

（3）拥有最大限度的测试程序编辑功能，可对测试过程中的所有参数进行自定义设置。