
微粒碰撞噪声多余物自动检测系统
微粒碰撞噪声多余物多余物自动检测系统主要针对500克以下器件进行PIND检测,设备主要分为半导体类器件多余物检测系统与继电器类多余物检测系统,具有波形回放、机械噪声识别、多余物材质识别、数据库等功能特点,满足GJB548C、GJB360B、GJB128B、GJB2888A、GJB65C等相关标准要求。
- 功能特点
- 技术参数
◆ 波形回放:重新播放当前或历史实验数据。
◆ 数据保存:试验之后的波形数据进行保存。
◆ 数据加载:加载保存后试验数据,为数据分析、波形打印、波形回放做准备。
◆ 数据分析:分析试验数据的结果,如粒子波、机械波、机械波过大、正常。
◆ 数据查询:按照时间、操作人员、器件型号、实验方案等组合式查询。
◆ 波形打印:对当前或历史的试验数据打印试验报告。
◆ 机械噪声:设备可以区分粒子噪声与机械噪声。
◆ 材质识别:设备可以针对声音波形进行分析判断器件内部多余物材质。
◆ 计量端口:集成声发射传感器计量通道,配备BNC前向通道校准端口。
◆ 信息化端口:配备信息化端口,用于设备内部通信和接入工控网。
◆ 模块化设计:模块化架构设计符合国际标准规范,便于现场调试和维护。
设备型号 | DZJC-ⅢU | DZJC-ⅢM | DZJC-ⅢU5 | DZJC-ⅢM5 |
试验对象 | 半导体类器件 | 继电器类器件 | 半导体类器件 | 继电器类器件 |
振动频率 | 25~250Hz | |||
振动加速度 | 5~25g | |||
冲击加速度 | 200~2500g | 200~800g | 200~2500g | 200~800g |
冲击脉宽 | ≤0.1ms | ≤1ms | ≤0.1ms | ≤1ms |
极限载荷 | 500g | 400g | ||
声音晶体数 | 1 个 | 5个 | ||
通道模式 | 单晶体独立通道 | 多晶体并联 | ||
传感器台面直径 | Φ50±1mm | Φ100±1mm | ||
传感器灵敏度 | 150kHz~160kHz下,-77.5±3dB re 1V/0.1Pa | |||
最小检测质量 | 0.1ug | |||
STU输出电压 | 250uV±20% | |||
声音前向通道增益 | 60±2dB |